Suchergebnisse für
LEICA MICROSYSTEMS
Deutschland
Bei der Inspektion, Prozesskontrolle oder Analyse von Defekten und Fehlern in der Mikroelektronik- bzw. Halbleiterbranche kommt es auf Schnelligkeit an. Je schneller ein Defekt erkannt wird, desto schneller kann darauf reagiert werden. Mit dem einzigartigen Makroobjektiv des DM3 XL profitieren Sie von einem 30% größeren Sichtfeld. Das ermöglicht Ihnen eine schnellere Erkennung von Defekten und steigert Ihren Durchsatz. Zusätzlich nutzt das DM3 XL für alle Kontrastmethoden LED-Beleuchtung. Diese liefert eine konstante Farbtemperatur und bietet Ihnen in allen Intensitätsstufen Echtfarbgebung. - Erhöhung des Durchsatzes - Entwicklungsfehler am Rand oder im Zentrum eines Wafers zuverlässig erkennen - Ungleichmäßigkeiten in den radialen Schichtdicken aufdecken - Natürliche Farbwiedergabe in allen Intensitätsstufen ohne nachjustieren - Reproduzierbare Ergebnisse
Angebot anfordernSie verkaufen oder produzieren ähnliche Produkte?
Registrieren Sie sich auf europages und referenzieren Sie Ihre Produkte
Suchergebnisse für
Elektronische Einrichtungen zum Prüfen und Einstellen von Motoren - Import ExportAnzahl der Ergebnisse
1 ProduktUnternehmensart